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이온 마이그레이션 발생에 대한 수분온도의 영향
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  • 이온 마이그레이션 발생에 대한 수분온도의 영향
저자명
이덕보,김정현,강수근,김상도,장석원,임재훈,유동수,Lee. Deok Bo,Kim. Jung Hyun,Kang. Soo Keun,Kim. Sang Do,Jang. Seok Won,Lim. Jae Hoon,Ryu. Dong Soo
간행물명
신뢰성응용연구
권/호정보
2005년|5권 2호|pp.261-272 (12 pages)
발행정보
한국신뢰성학회
파일정보
정기간행물|
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주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In evaluation of electronic reliability on the PCB(Printed Circuit Board), electrochemical migration is one of main test objects. The phenomenon of electrochemical migration occurs In the environment of the high humidity and the high temperature under bias through a continuous aqueous electrolyte. In this paper, the generating mechanism of electrochemical migration is investigated by using water droll acceleration test under various waters. The waters used in the water drop test are city water, distilled water and ionic water. It found that the generated velocity of electrochemical migration depended on the temperature of water and the electrolyte quantity which included in the various waters.