- X선을 이용한 표면 및 계면의 전자구조 측정방법 소개
- ㆍ 저자명
- 조상완,Cho. Sang Wan
- ㆍ 간행물명
- 진공 이야기
- ㆍ 권/호정보
- 2014년|1권 1호|pp.17-20 (4 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국진공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
This article introduces the basic concepts of various soft X-ray spectroscopies in the study of surface and interface electronic structures. Especially, recent results of X-ray photoelectron spectroscopy experiments on organic/inorganic thin films and a lead-free solder alloys will be discussed. Soft X-ray spectroscopies to understand the chemical and electrical properties would be of broad interest in the vacuum science communities.