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X선을 이용한 표면 및 계면의 전자구조 측정방법 소개
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  • X선을 이용한 표면 및 계면의 전자구조 측정방법 소개
저자명
조상완,Cho. Sang Wan
간행물명
진공 이야기
권/호정보
2014년|1권 1호|pp.17-20 (4 pages)
발행정보
한국진공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This article introduces the basic concepts of various soft X-ray spectroscopies in the study of surface and interface electronic structures. Especially, recent results of X-ray photoelectron spectroscopy experiments on organic/inorganic thin films and a lead-free solder alloys will be discussed. Soft X-ray spectroscopies to understand the chemical and electrical properties would be of broad interest in the vacuum science communities.