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ML-AHB 버스 매트릭스를 위한 슬레이브 중심 중재 방식의 성능 분석
황수연, 박형준, 장경선, Hwang. Soo-Yun, Park. Hyeong-Jun, Jhang. Kyoung-Son 한국정보과학회 정보과학회논문지. Journal of KIISE. 시스템 및 이론 10 Pages
한국정보과학회 정보과학회논문지. Journal of KIISE. 시스템 및 이론 2007, Vol.34 No.5 257-266 (10 pages)
온 칩 버스에서 중재 방식은 전체 시스템의 성능을 결정하는 중요한 요소 중 하나이다. 전통적인 공유 버스는 다수의 마스터와 단일 중재기 사이의 버스 사용 요청 및 권한 신호에 기반한 마스터 중심의 중재 방식을 사용한다. 마스터 중심의 중재 방식을 사용할 경우 한 순간에 오직 하나의 마스터와 슬레이브만이 데이타 전송을 수행할 수 있다. 따라서 전체 버스 시스템의 효율성 및 자원의 이용률이 감소되는 단점이 있다. 반면, 슬레이브 중심의 중재 방식은 중재기가 각 슬레이브 포트 별로 분산되며, 마스터는 중재 동작 없이 바로... -
ML-AHB 버스 매트릭스 구현 방법의 개선
황수연, 장경선, Hwang. Soo-Yun, Jhang. Kyoung-Sun 한국정보과학회 정보과학회논문지. Journal of KIISE. 시스템 및 이론 10 Pages
한국정보과학회 정보과학회논문지. Journal of KIISE. 시스템 및 이론 2005, Vol.32 No.11 629-638 (10 pages)
시스템 온 칩 설계에서 온 칩 버스는 전체 시스템의 성능을 결정하는 중요한 요소이다. 특히 프로세서, DSP 및 멀티미디어 IP와 같이 보다 높은 버스 대역폭을 요구하는 IP가 사용될 경우 온 칩 버스의 대역폭 문제는 더욱 심각해진다. 이에 따라 최근 ARM 사에서는 고성능 온 칩 버스 구조인 ML-AHB 버스 매트릭스를 제안하였다. ML-AHB 버스 매트릭스는 시스템 내의 다중 마스터와 다중 슬레이브간의 병렬적인 접근 경로를 제공하여 전체 버스 대역폭을 증가시켜주고, 최근 많은 프로세서 요소들을 사용하는 휴대형 기기 및 통신 기기... -
MF-VLD에 대한 효율적인 하드웨어 구조
서기범, Suh. Ki-Bum 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 6 Pages
대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 2011, Vol.48 No.11 57-62 (6 pages)
본 논문에서는 H.264, MPEG-2, MPEG-4, AVS, VC-1 코덱 표준의 가변 길이 복호화와 역 영자화가 가능한 MF-VLD(Multi-Format Variable Length Decoder)의 효율적인 구조에 대한 설계 방법을 제안 한다. 제안하는 MF-VLD는 MPSOC(Multiprocessor System on Chip)에 적합한 구조로 설계되었으며, 역 양자화된 데이터에 대해서 bit-plane알고리즘을 적용하여 AHB 버스의 폭을 줄였고, 내부 메모리의 사용량을 최소화 하기 위해 외부 SDRAM을 사용하였다. 또한, 코덱의 가변길이 복호화 모듈을 분리 가능한 구조로 설계하여 상황에 따라... -
네트워크-온-칩 설계의 전력 소모 분석을 위한 Virtex-II FPGA의 싸이클별 전력 소모 측정 도구 개발
이형규, 장래혁, Lee. Hyung-Gyu, Chang. Nae-Hyuck 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 9 Pages
대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 2007, Vol.44 No.2 86-94 (9 pages)
네트워크-온-칩(NoC, network-on-chip) 기술은 SoC (system-on-a-chip) 설계에서 증가되는 온칩 통신의 복잡성을 해결하고 높은 확장성을 제공할 수 있는 기술이다. NoC를 이용한 설계는 많은 수의 IP들과 통신 네트워크들을 사용하기 때문에 동작이 복잡하고 설계 공간이 커서 많은 전력을 소모 한다. 그러나 기존의 분석적인 방법은 NoC응용의 큰 설계 공간 및 동작의 복잡성에 비해 상대적으로 간소화된 모델을 사용하여 현실적인 설계요소를 반영하지 못하거나 복잡한 시뮬레이션에 따른 많은 노력 및 시간 요구로 사용에 많은 제약이... -
MCM-D 공정기술을 이용한 V-BAND FILTER 구현에 관한 연구
유찬세, 송생섭, 박종철, 강남기, 차종범, 서광석, Yoo. Chan-Sei, Song. Sang-Sub, Part. Jong-Chul, Kang. Nam-Kee, Cha. Jong-Bum, Seo. Kwang-Seok 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 5 Pages
대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 2006, Vol.43 No.9 64-68 (5 pages)
본 연구에서는 Si bump를 이용해 기판의 기계적, 열적 특성을 개선한 MCM-D 기판공정을 개발하였고, 이를 system-on-package(SOP)-D개념의 system 구현에 적용하고자 하였다. 이 과정에서 밀리미터파 대역에 적용될 수 있는 필터를 설계하고 구현하여 그 특성을 관찰하였다. 두 가지 형태의 필터를 구현하였는데 첫 번째는 공진기간의 커플링을 이용한 구조로서 2층의 금속층과 3층의 유전체(BCB)를 이용하였다. 구현된 필터 특성은 중심주파수 55 GHz에서의 삽입손실이 2.6 dB이고 군지연이 0.06 ns정도로 우수한 특성을 나타내었다.... -
패턴 테스트 가능한 NAND-형 플래시 메모리 내장 자체 테스트
황필주, 김태환, 김진완, 장훈, Hwang. Phil-Joo, Kim. Tae-Hwan, Kim. Jin-Wan, Chang. Hoon 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea 9 Pages
대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea 2013, Vol.50 No.6 122-130 (9 pages)
메모리반도체산업이 성장함에 따라 수요와 공급이 큰 폭으로 증가하고 있다. 그 중 플래시 메모리가 스마트폰, 테블릿PC, SoC(System on Chip)산업에 많이 사용되고 있다. 플래시 메모리는 NOR-형 플래시 메모리와 NAND-형 플래시 메모리로 나뉜다. NOR-형 플래시 메모리는 BIST(Built-In Self Test), BISR(Built-In Self Repair), BIRA(Built-In Redundancy Analysis) 등 많은 연구가 진행되었지만 NAND-형 플래시 메모리 BIST는 연구가 진행되지 않았다. 현재 NAND-형 플래시 메모리 패턴 테스트는 고가의 외부 테스트 장비를 사용하여... -
Frequency-ordered 기반 FDR 테스트패턴 압축 알고리즘
문창민, 김두영, 박성주, Mun. Changmin, Kim. Dooyoung, Park. Sungju 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 8 Pages
대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 2014, Vol.51 No.5 106-113 (8 pages)
최근 반도체 업계에서 주요 관심사로 떠오르고 있는 SOC(System-on-a-chip) 테스트는 비용 및 시간 절감을 위해 여러 종류의 FDR(Frequency-directed run-length) 기술이 제안되었다. 기존의 FDR보다 압축률을 향상시키는 EFDR(Extended-FDR)과 SAFDR(Shifted-Alternate-FDR), VPDFDR(Variable Prefix Dual-FDR)이 있다. 본 논문에서는 제안한 Frequency-ordered 방식은 FDR, EFDR, SAFDR, VPDFDR에 적용시켜 상당한 압축률 개선을 보인다. 본 기술을 사용하면 압축률을 극대화할 수 있고, 결과적으로 전체적인 양산 테스트 비용 및... -
MLC NAND-형 Flash Memory 내장 자체 테스트에 대한 연구
김진완, 김태환, 장훈, Kim. Jin-Wan, Kim. Tae-Hwan, Chang. Hoon 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 11 Pages
대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 2014, Vol.51 No.3 61-71 (11 pages)
임베디드 시스템의 저장매체 시장의 플래시 메모리의 점유율이 증가되고 반도체 산업이 성장함에 따라 플래시 메모리의 수요와 공급이 큰 폭으로 증가하고 있다. 특히 스마트폰, 테블릿 PC, SSD등 SoC(System on Chip)산업에 많이 사용되고 있다. 플래시 메모리는 셀 배열 구조에 따라 NOR-형과 NAND-형으로 나뉘고 NAND-형은 다시 Cell당 저장 가능한 bit수에 따라서 SLC(Single Level Cell)과 MLC(Multi Level Cell)로 구분된다. NOR-형은 BIST(Bulit-In Self Test), BIRA(Bulit-In Redundancy Analysis)등의 많은 연구가 진행되었지만...