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Filter Driver 와 NAND FLASH Memory를 이용한 HDD 장치의 성능 개선에 관한 연구
김재경, 김우길, 김영길, Kim. Jae-Kyung, Kim. Woo-Gil, Kim. Young-Kil 한국정보통신학회 한국해양정보통신학회논문지 7 Pages
한국정보통신학회 한국해양정보통신학회논문지 2011, Vol.15 No.8 1635-1641 (7 pages)
본 논문에서는 NAND FLASH Memory를 HDD 의 Cache 로 사용하기 위해 I/O 용 Filter Driver의 구현을 제시 했으며, 이를 통해 HDD 저장장치의 느린 I/O 성능을 개선하기 위한 방법에 대해 연구했다. 반도체 부품으로서 빠른 I/O 성능을 보이는 NAND FLASH Memory이지만, 비싼 가격 때문에 HDD를 통째로 대체할 수 없음에서 본 개선 방법을 제안했다. 본 연구는 SSD의 빠른 I/O성능과 Filter Driver 의 Cache 관리 성능을 통해서 적은 비용으로 HDD의 높은 Performance를 이루어 냄을 목적으로 한다. -
Program Cache Busy Time Control Method for Reducing Peak Current Consumption of NAND Flash Memory in SSD Applications
Park. Se-Chun, Kim. You-Sung, Cho. Ho-Youb, Choi. Sung-Dae, Yoon. Mi-Sun, Kim. Tae-Yun, Park. Kun-Woo, Park. Jongsun, Kim. Soo-Won 한국전자통신연구원 ETRI journal 4 Pages
한국전자통신연구원 ETRI journal 2014, Vol.36 No.5 876-879 (4 pages)
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NAND Flash Memory 기반 저장장치 기술 동향
방관후, 박상훈, 정의영, Bang. Gwan-Hu, Park. Sang-Hun, Jeong. Ui-Yeong 대한전자공학회 電子工學會誌 10 Pages
대한전자공학회 電子工學會誌 2010, Vol.37 No.3 21-30 (10 pages)
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MLC NAND-형 Flash Memory 내장 자체 테스트에 대한 연구
김진완, 김태환, 장훈, Kim. Jin-Wan, Kim. Tae-Hwan, Chang. Hoon 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 11 Pages
대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 2014, Vol.51 No.3 61-71 (11 pages)
구분된다. NOR-형은 BIST(Bulit-In Self Test), BIRA(Bulit-In Redundancy Analysis)등의 많은 연구가 진행되었지만 NAND-형의 경우 BIST 연구가 적다. 기존의 BIST의 경우 고가의 ATE 등의 외부 장비를 사용하여 테스트를 진행해야한다. 하지만 본 논문은 MLC NAND-형 플래시 메모리를 위해 제안되었던 MLC NAND March(x)알고리즘과 패턴을 사용하며 내부에 필요한 패턴을 내장하여 외부 장비 없이 패턴 테스트가 가능한 유한상태머신(Finite State Machine) 기반구조의 MLC NAND-형 플래시 메모리를 위한 BIST를 제안하여 시스템의... -
NAND Flash Memory Pattern Test를 위한 PMBIST
김태환, 장훈, Kim. Tae-Hwan, Chang. Hoon 대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 11 Pages
대한전자공학회 Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers 2014, Vol.51 No.1 79-89 (11 pages)
태블릿 PC)로 인하여 고용량과 빠른 속도를 원하는 소비자가 증가하고 있다. 이에 따라 Flash Memory의 수요도 지속적으로 증가하고 있다. Flash Memory는 NAND형과 NOR형으로 구분되어 있다. NAND형 Flash Memory는 NOR형 Flash Memory에 비해 속도는 느리지만 가격이 저렴하다. 그렇기 때문에 NAND형 Flash Memory는 Mobile 시장에서 많이 사용되어지고 있다. 그래서 Flash Memory Test를 위한 Fault 검출은 메우 중요하다. 본 논문에서는 Fault 검출 향상을 위한 NAND형 Flash Memory의 Pattern Test를 위한 PMBIST를 제안한다. -
A New Programming Method to Alleviate the Program Speed Variation in Three-Dimensional Stacked Array NAND Flash Memory
Kim. Yoon, Seo. Joo Yun, Lee. Sang-Ho, Park. Byung-Gook 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science 6 Pages
대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science 2014, Vol.14 No.5 566-571 (6 pages)