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Preservice Elementary Teachers’ Images of Scientific Inquiry Regarding Practices of Next Generation Science Standards
Jeon Kyungmoon, Biggers. Mandy S 이화여자대학교 교과교육연구소 교과교육학연구 9 Pages
이화여자대학교 교과교육연구소 교과교육학연구 2017, 제 21권 4호 13 450-458 (9 pages)
We investigated Korean preservice elementary teachers’ mental images of science inquiry and inquiry teaching with respect to 8 specific Science and Engineering Practices (SEP). The preservice teachers had learned about science inquiry, but were not taught these SEP in their Korean curriculum. We asked them to draw and explain an imagined situation where they would be teaching science inquiry in an elementary science classroom. Some were also asked to describe an imagined situation of scientists... -
성능 제약 조건 하에서의 SAMBA 형 MPSoC 버스 구조 최적화
김홍염, 정성철, 신현철, Kim. Hong-Yeom, Jung. Sung-Chul, Shin. Hyun-Chul 대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 8 Pages
대한전자공학회 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체 2010, Vol.47 No.1 94-101 (8 pages)
버스 구조가 적절한 점에 주목하여, 간단한 arbitration이 특징인 Single Arbitration Multiple Bus Accesses (SAMBA) 형 버스 구조를 이용하여, 다양한 application에 대한 성능 제약 조건을 만족하는 저비용 버스 구조를 찾는 새로운 방법을 제안하였다. 다양한 Application을 실험에 이용하여, 제안한 방법으로 성능 제약 조건 내에서 저비용 버스 구조를 찾았다. 같은 성능으로 최적화 전의 구조에 비해서 버스 분할에 필요한 로직 사용이 경우에 따라 약 50% 이상 감소한다. 또한 다양한 성능 조건에 대한 저비용 버스 구조를 찾을... -
경계스캔 구조를 사용한 시스템의 온라인 버스 모니터링
송동섭, 배상민, 강성호, 박영호, Song. Dong-Sup, Bae. Sang-Min, Kang. Sung-Ho, Park. Young-Ho 대한전기학회 전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. D / D, 시스템 및 제어부문 8 Pages
대한전기학회 전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. D / D, 시스템 및 제어부문 2000, Vol.49 No.12 675-682 (8 pages)
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System Level Architecture Evaluation and Optimization: an Industrial Case Study with AMBA3 AXI
Lee. Jong-Eun, Kwon. Woo-Cheol, Kim. Tae-Hun, Chung. Eui-Young, Choi. Kyu-Myung, Kong. Jeong-Taek, Eo. Soo-Kwan, Gwilt. David 대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science 8 Pages
대한전자공학회 Journal of semiconductor technology and science 2005, Vol.5 No.4 229-236 (8 pages)
