- 마이크로 컴퓨터의 시험및 신뢰성
- ㆍ 저자명
- 임제탁
- ㆍ 간행물명
- 전기학회지= The Processing of the Institute of Electrical Engineers
- ㆍ 권/호정보
- 1979년|28권 6호|pp.3-10 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전기학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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여기서는 마이크로컴퓨터의 시험법에 관해서 현재시판되고 있는 시험기와 함께 소개하고 단일 칩마이크로컴퓨터에 관해서 실시하고 있는 시험 패턴 설계예를 약간 상세히 기술한다. 또 마이크로컴퓨터용 LSI의 고장모우드, 고장메카니즘의 분류및 고장율, 신뢰성의 현장과 문제점에 관해서 기술함과 동시에 초기불량을 제거하여 신뢰성을 향상시키는 수단으로서의 스크리닝(screening)및 신뢰도예측에 관해서 소개하고 현장에 있어서의 문제점과 대책에 관해서 논의한다.