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PLA에서의 고장검출 및 고장진단에 관한 연구
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  • PLA에서의 고장검출 및 고장진단에 관한 연구
저자명
이은설,김희석,박재탁,Lee. Eun-Seol,Kim. Hui-Seok,Park. Jae-Tak
간행물명
電子工學會誌
권/호정보
1981년|18권 3호|pp.15-20 (6 pages)
발행정보
대한전자공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

PLA는 fusing에 의하여 programming이 되므로 일반적인 조합논리에서는 존재하지 않는 fusing에 의한 고장이 발생하게 된다. 본 논문에서는 이와 같은 고장의 검출과 고장진단을 위하여 test 입력을 규칙적으로 구하는 방법과 회로가 redundant 상태이거나 irredundant 상태이거나에 관계없이 고장검출이 가능하도록 회로를 구성하는 방법을 제안하였다.