분석시료에 일정량의 표준물을 첨가한 후 희석제로 묽히는 방법을 이용하여 주석슬랙중의 $Ta_2O_5$,$Nb_2O_5$ 및 $SnO_2$를 X-선 분광 분석법으로 정량하였다. 희석제로는 $SiO_2$와 $Fe_2O_3$를 사용하였으며 첨가시료와 1:1의 비로 희석 시켰다. $Ta_2O_5$와 $SnO_2$ 의 분석결과는 $Fe_2O_3$보다 $SiO_2$로 희석시킨 것이 표준 검정곡선법에 의해 얻은 분석값과 더 잘 일치하고, $Nb_2O_5$는 이와 반대로 $SiO_2$보다 $Fe_2O_3$로 희석시킨 것이 더 잘 일치함을 보여주었다.
Determination for $Ta_2O_5$,$Nb_2O_5$ and $SnO_2$ in tin slags was investigated by X-ray spectrometric method. Standard addition-dilution method was attempted and showed a comparable accuracy with standard calibration curve method. Pure chemicals($Ta_2O_5$,$Nb_2O_5$ and $SnO_2$) were added to the samples and diluted with silica or ferric oxide. For the determination of $Ta_2O_5$and$SnO_2$ , silica was more suitable than ferric oxide while the latter was more preferable than the former for $Nb_2O_5$.
