- Bit-map 방식에 의한 설계규칙 검사
- ㆍ 저자명
- 어길수,김경태,경종민,Eo. Gil-Su,Kim. Gyeong-Tae,Gyeong. Jong-Min
- ㆍ 간행물명
- 電子工學會誌
- ㆍ 권/호정보
- 1985년|22권 2호|pp.36-43 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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NMOS IC layout에서 직사각형 도형의 갯수에 비례하는 검사시간을 소모하는 설제규칙 검사의 알고리즘의 제안되고 그것에 의한 program이 개발 되었다. 일반적인 설계규칙 검사 algorithm의 시간소모는 0(nlogn) 혹은 0(n**1 . 2)에 비례하는데 반하여 (n은 직사각형 도형의 갯수) 이 논문에서는 pattern의 DF(direct format) data와 bit-map plane을 연관 지음으로써 0(n)에 비례하는 시간소모를 달성 할 수 있었다.
This paper describes a DRC (Design Rule Check) algorithm and its program implement-ation which requires CPU time linearly proportional to the number of rectangular patterns n the NMOS If layout. While the CPU time for conventional DRC algorithm is proportion-al to 0(nlogn) or 0(n**1.2), (n:number of rectangles it was shown that the present also-rithm only consumes CPU time linearly proportional to 0(n).