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Chips 실험에 의한 공정능력의 해석
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  • Chips 실험에 의한 공정능력의 해석
  • Process Capability Analysis by the Experiment of Chips
저자명
송서일,황의철
간행물명
공업경영학회지
권/호정보
1987년|10권 16호|pp.63-73 (11 pages)
발행정보
한국산업경영시스템학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Process capability is reflected on four major factors such as materials, equipments. skill of operators, and methods. The status of the process is typically represented by the mean value 〔$mu$〕as a central tendancy, and the variance 〔$sigma$$^2$〕 as a magnitude of dispersion. This paper analyzes the process capability by the experiment of chips is accounted on a population from the process. So, this paper analyzes the next four cases : (1) When the process distribution is changed from N[$mu$$_1$, $sigma$$^2$〕to N〔$mu$$_2$, $sigma$$^2$〕. (2) When the process distribution is changed from N[$mu$, $sigma$$_1$$^2$] to N[$mu$, $sigma$$_2$$^2$]. (3) When the population is compounded by the different two distributions of N〔$mu$$_1$, $sigma$$^2$〕and N〔$mu$$_2$, $sigma$$^2$〕. (4) When the population is compounded by the different two distributions of N〔$mu$, $sigma$$_1$$^2$〕 and N[$mu$$sigma$$_2$$^2$].