- 회로팩의 온도가속 수명시험에 관한 고찰
- ㆍ 저자명
- 김창희,양충렬,고재상,Kim. Chang-Hui,Yang. Chung-Ryeol,Go. Jae-Sang
- ㆍ 간행물명
- 전자통신동향분석
- ㆍ 권/호정보
- 1992년|7권 3호|pp.145-153 (9 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국전자통신연구원
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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통신시스팀을 구성하는 PBA수준에 대해 운용중의 고장률 추정 및 고장형태 파악을 목적으로 실시하는 가속수명시험에 대해 서술하였다. 이를 위해 통신 시스팀에서 나타나는 고장 유형 및 각 기간에서의 고장률데이터 확보방법, 가속수명시험의 종류 및 원리, 시스팀을 구성하는 PBA 수준에 대한 가속수명시험조건에 대해 서술하였다.