- 수렴성빔 전자회절법을 이용한 리오캐스팅시킨 과공정 Al-Si합금에서 실리콘초정의 격자상수 측정
- Measurement of Lattice Parameter of Primary Si crystal in Rheocast Hypereutectic Al-Si Alloy by Convergent Beam Electron Diffraction Technique
- ㆍ 저자명
- 이정일,김긍호,이호인,Lee. Jung-Ill,Kim. Gyeung-Ho,Lee. Ho-In
- ㆍ 간행물명
- 한국전자현미경학회지
- ㆍ 권/호정보
- 1995년|25권 3호|pp.99-107 (9 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국현미경학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
