원형대칭 빛살 Z-스캔 방법에 의한 광학적 비선형 굴절율 측정

원형대칭 빛살 Z-스캔 방법에 의한 광학적 비선형 굴절율 측정

ㆍ 저자명: 김기훈,임용식,박종대,김칠민,조창호,Kim. Gi-Hun,Im. Yong-Sik,Park. Jong-Dae,Kim. Chil-Min,Jo. Chang-Ho
ㆍ 간행물명: 自然科學論文集 : 배재대학 첨단과학연구소
ㆍ 권/호정보: 1995년|7권 2호|pp.11-17 (7 pages)
ㆍ 발행정보: 배재대학교 자연과학연구소
ㆍ 파일정보: 정기간행물|
PDF텍스트
ㆍ 주제분야: 기타

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서지반출

기타언어초록

미소 반도체 $Bil_3$ 콜로이드의 광학적 비선형 굴절율을 원형 대칭 빛살을 사용한 Z 스캔 방법으로 측정하였다. 파장 $0.532mum$, 펄스폭 20ns에서 비선형 굴절율은 주로 열적 요인에 의한 것이었으며, 그 크기는 -1.53 x $10^12($cm^2/W) 이었고, 비선형 흡수율 크기는 7.1 x $10^8$ (cm/W) 이었다.

기타언어초록

The optical nonlinear refractive index of $Bil_3$ semiconductor microcluster colloid has been measured by the Z-scan method with circular symmetric beam. The value of nonlinear refractive index was -1.53 x $10^12($cm^2/W) at $0.532mum$and the nonlinearities were mainly due to thermal effect induced by 20 ns laser pulse. And the absorption coefficient was measured to be -$10^8$(cm/W)

키워드

Z-scan nonlinear refractive index

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