최대 주기를 갖는 n차 선형 쉬프트 레지스트(m-LFSR)를 비선형 논리로 결합 하여 키 출력 수열을 발생시키는 이진 난수 발생기의 출력 수열과 입력 m-LFSR출력 수열과 의 입.출력 상관관계를 이용한 통계적 검정법을 제안한다. 제안된 검정법은 비선형 함수의 출력과 입력 변수들 간의 상호 정보량으로 분할표의 동질성을 이용하며 $chi$2- 검정을 수행한다. 또한 제안된 검정법을 대표적인 몇몇 비선형 암호 시스템에 적용한 컴퓨터 시뮬레이션 결과를 기술함 으로서 제안된 검정법이 강력한 알고리즘 설계 기준의 평가 척도로써 이용될 수 있슴을 보인다.
We propose a statistical test for the nonlinear combiner logics which are usually combined with two maximal Linear Feedback Shift Registers and generate pseudorandom bit sequences. This test uses the mutual information between the output and set of inputs which will be a random variable and its distribution is obeyed to an approximate ${chi}^2$ -distribution. We adopt this statistic to a ${chi}^2$ -test of independence by using contingency table. We also apply a proposed test to some non-linear crptosystems and show that this useful to evaluate the strength of the cryptosystems.
