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GROWTH AND ELECTRICAL PROPERTIES OF (La,Sr)CoO$_3$/Pb(Zr,Ti)O$_3$/(La,Sr)CoO$_3$ HETEROSTRUCTURES FOR FIELD EFFECT TRANSISTOR
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  • GROWTH AND ELECTRICAL PROPERTIES OF (La,Sr)CoO$_3$/Pb(Zr,Ti)O$_3$/(La,Sr)CoO$_3$ HETEROSTRUCTURES FOR FIELD EFFECT TRANSISTOR
저자명
Lee. J.,Kim. S.W.
간행물명
한국표면공학회지
권/호정보
1996년|29권 6호|pp.839-846 (8 pages)
발행정보
한국표면공학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Epitaxial (La, Sr)$CoO_3/Pb(Zr,;Ti)O_3/(La,;Sr)CoO_3$by pulsed laser deposition for ferroelectric field effect transistor. Epitaxial $LaCoO_3/Pb(Zr,;Ti)O_3/(La,;Sr)CoO_3$ heterostructures exhibited 70$mu C/cm^2$ and 17 $mu C/cm^2$at a positively and negatively poled states, respectively. On the other hand, epitaxial (La, Sr)$CoO_3/Pb(Zr,;Ti)O_3/LaCoO_3$heterostructures show the remnant polarization states opposite to the $LaCoO_3/Pb(Zr,;Ti)O_3/(La,;Sr)CoO_3$ heterostructures. This indicates that the interface between (La, Sr)$CoO_3$ (LSCO) and $Pb(Zr, Ti)O_3(PZT)$ layers affects the asymmetric polarization remanence through electrochemical nature. The resistivity of $LaCoO_3$ (LCO) layer was found to be dependent on an ambient oxygen, primarily the ambient oxygen pressure during deposition. The resistivity of the LCO layer varied in the range of 0.1-100 $Omega$cm. It is suggested that, with an appropriate resistivity of the LCO layer, the LCO/PZT/LSCO heterostructure can be used as the ferroelectric field effect transistor.