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Optimal Plan for Fully Accelerated Life Tests with Three-Step Stress Under Type I Censoring
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  • Optimal Plan for Fully Accelerated Life Tests with Three-Step Stress Under Type I Censoring
  • Optimal Plan for Fully Accelerated Life Tests with Three-Step Stress Under Type I Censoring
저자명
Moon. Kyoung-Ae,Shin. Im-Hee
간행물명
한국데이터정보과학회지
권/호정보
1996년|7권 2호|pp.295-299 (5 pages)
발행정보
한국데이터정보과학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, optimal change times are determined for fully three-step stress accelerated life tests, which minimize the asymptotic variance for maximum likelihood estimator of logarithm of the failure rate at the usual condition and exponential distribution is given for life time data.