본 논문은 형식 기술 기법에 의한 차세대 지능망의 INAP(Intelligent Network Application Protocol) 프로토콜 적합성 시험 계열 생성을 위해 형식 기술 기법(formal Description Tehnique)을 사용하여 프로토콜을 명세화한후 이것으로부터 최소 길이의 최소 비용을 요구 하는 시험계열 생성을 위한 최적화 기술에 의한 방법을 제안한다. 제안된 방법을 구연하고 효율성을 증명하기 위해, INAP 프로토콜 SRF(Serivece Rexource Function)의 SRSM(SRF Call State Machine)을 형식 기술 기법 중의 하나인 SDL(System Description Language)로 명세화 하여 관련 도구로 I/O FSM(Input/Output Finite Machine)을 생성 하고, 이 참조 모델에 직접 적용하여 시험 개열을 생성하였다. 이렇게 생성 시험 개혈의 길이가 기존의 UIO(Unique Input Output)방법에 의한 31%나 개선된 짧고 효율적임을 보였고 또 오류 판단 능력면에서도 훨씬 효과가 있음을 실험적으로 증명하였다.
This paper proposes a formal method on confromance testing for INAP(AIN) test sequence generation by optimization technique.In order to implement and prove the dffectiveness of the proposed method,we specify the SRSM of INAP protocol SRF in SDL and generate I/O FSM by using our S/W tool. We generate an opti-mal test sequence by applying our method our method to this reference I/O FSM. We prove experimentally that the length of the generated test sequence by our method is more effective and shorter(i.e 32% improved)than the one geverated by UIO method,and estimate that The test coverage space of our test sequence is larger that of UIO method.
