본 논문은 효과적인 검사 패턴 발생 방법을 제안한다. 기존의 검사 패턴 발생 방법 들은 고장 $F_{i+l}$에 대한 검사 패턴 발생을 고장 F1,F2....,Fi들에 대한 검사 패턴 발생시 행한 계산과는 독립적으로 행하게 된다. 제안된 방법에서는 고장 Fi에 대한 검사벡터를 전수받아 고장$F_{i+l}$에 대한 검사벡터를 발생한다. 전수받은 값을 점차로 바꾸어 나가 면서 새로운 검사벡터가 발생된다. 전수받은 값은 부분적으로 고장 신호를 활성화하고 이 고장 신호를 전파시키기도 한다. 보통 이들은 다음 탈식과정에서 결정단계의 수와 회귀 의 수를 감소 시킨다. 잘로서 알려진 벤치마크 회로에 대한 실험 결과는 낮은 회귀한계 에서 매우 효과적임을 보여주고, 다른 알고리즘과 병합시키면 임의의 회귀한계에서도 매우 효과적임음을 보여 준다.
This paper proposes an dffcient method for test pattern generation.Current test pattern genration systems generate a test vester for fault $F_{i+l}$ independently of the computation previously done for faults F1,F2...,Fi The proposed algorithm generates a test vector for fault $F_{i+l}$ by inheriting the test vector for fault Fi. A new test vector is grnerated from inherited values by gradually changing the inhderited values .The inherited values may partially activate a fauog and propagate the fault signal,Normally,this reduses the number of decision steps and backtracks in the second search.Experimental results for well-Known benchmark circuts show that the proposed algorithm is very efficient with small backtrack kimit;in combination eith other algorithms,it is very efficient for arbitrary backtrack limits.
