- 빠른 무해 인식에 의한 효율적인 테스트 패턴 생성
- An efficient test pattern generation based on the fast redundancy identification
- ㆍ 저자명
- 조상윤,강성호
- ㆍ 간행물명
- 電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C
- ㆍ 권/호정보
- 1997년|8호|pp.39-48 (10 pages)
- ㆍ 발행정보
- 대한전자공학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
