본 논문에서는 테스트가 용이하도록 ECC(error checking circuit)를 내장하여 테스트를 수행할 수 있는 CAM(content addressable memory)를 설계하였다. 즉, CAM에서 발생하는 읽기, 쓰기 및 매치 동작의 기능 고장을 검사할 수 있는 회로를 내장한 CAM을 설계하였다. 일반적으로 테스트 회로를 내장하면 전체면적의 증가를 가져오게 된다. 본 논문에서는 기존의 병렬 비교기를 사용한 내장(built-in) 테스트 회로의 면적 오버헤드를 줄이기 위해서 새로 제안된 MTA 코드를 이용하였다. 설계한 회로는 VHDL 시뮬레이션을 통하여 검증하였으며, 0.B㎛ double-metal CMOS 공정을 이용하여 레이아웃을 수행하였다. ECC 회로의 경우 CAM의 기본 셀에서 매치기능을 담당하고 있는 XOR회로를 이용함으로써 약 30%정도 면적 감소를 가져왔다.
In this work, the testable CAM(Content Addressable Memory) is designed to perform the test effectively by inserting the ECC(Error Checking Circuit) inside the CAM. The designed CAM has the circuit which is capable of testing the functional faults in read, write, and match operations. In general the test circuit inserted causes the increase of total circuit area, Thus this work, utilizes the new MTA code to reduce the overhead of an area of the built-in test circuit which has a conventional parallel comparator. The designed circuit was verified using the VHDL simulator and the layout was performed using the 0.8${mu}{ extrm}{m}$ double metal CMOS process. About 30% reduction of a circuit area wad achieved in the proposed CAM using the XOR circuit
