비동기 순차 회로에 대한 시험 벡터를 생성하는 문제는 매우 어려운 문제로 남아 있다. 현재까지 이 문제에 대한 알고리즘은 거의 없었다. 그리고, 기존의 접근 방식은 시험 벡터를 생성하는 동안에는 피이드백 루프를 절단하여 그 곳에 플립플롭이 있는 것처럼 가정하고 시험 벡터를 생성하는 방식이었다. 그래서, 기존의 알고리즘은 동기 순차 회로용 시험 벡터 생성 알고리즘과 매우 유사하였다. 이것은 시험 벡터를 생성할 때에는 비동기 순차회로를 동기 순차 회로로 가정하고 시험 벡터를 생성한다는 것을 의미한다. 그러므로, 생성된 시험 벡터가 비동기 순차 회로에 적용되었을 때, 대상 결함을 검출하지 못할 수도 있다는 것을 나타낸다. 본 논문에서는 비동기 순차 회로에 대한 시험 벡터를 생성할 수 있는 알고리즘을 제시하였다. 본 논문에서 제안된 알고리즘을 적용하여 생성된 시험 벡터는 임계레이스(critical race) 문제와 순환(oscillation) 문제의 발생을 최소로 하면서 비동기 순차 회로의 결함을 검출할 수 있다. 그리고, 본 논문에서 제안된 알고리즘을 적용하여 생성된 시험 벡터는 비동기 순차 회로에 대해서 대상 결함을 검출하는 것이 보장된다.
Generating test patterns for asynchronous sequential circuits remains to be a very difficult problem. There are few algorithms for this problem, and previous works cut feedback loops, and insert synchronous flip-flops in the feedback loops during ATPG. The conventional algorithms are similar to the algorithms for synchronous sequential circuits. This means that the conventional algorithms generate test patterns by modeling asynchronous sequential circuits as synchronous sequential circuits. So, test patterns generated by those algorithms nay not detect target faults when the test patterns are applied to the asynchronous sequential circuit under test. In this paper an algorithm is presented to generate test patterns for asynchronous sequential circuits. Test patterns generated by the algorithm can detect target faults for asynchronous sequential circuits with the minimal possibility of critical race problem and oscillation. And it is guaranteed that the test patterns generated by the algorithm will detect target faults.
