본 논문에서는 무고정 부분 스캔 테스트 방법을 위한 새로운 스캔 선택 알고리즘에 대하여 논한다. 무고정 부분 스캔 테스트 방법은 모든 플립-플롭을 스캔하지 않는다는 점을 제외하면 완전 스캔과 동일한 테스트 방법이다. 이 테스트 방법은 테스트 벡터를 입력, 인가, 혹은 적용 등, 어느 때에도 스캔, 비스캔 중 어느 플립-플롭의 데이터 값도 고정하지 않는다. 제안된 스캔 선택 알고리즘은 무고정 부분 스캔 테스트 방법에서 완전 스캔 고장 검출율을 거의 유지하면서 많은 플립-플롭을 스캔하지 않게 한다.
In this paper, we report new algorithms to select scan flip-flops for the no holding partial scan test method. The no holding partial scan test method is identical to the full scan test method except that some flip-flops are left unscanned. This test method does not hold scanned or unscanned flip-flops while shifting in test vectors, or applying them, or shifting out test results. The proposed algorithm allows a large number of flip-flops to be left unscanned while maintaining almost the complete full scan fault coverage.
