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기상측정(機上測定) 시스템 개발
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저자명
이승우,김선호,Lee. Seung-Woo,Kim. Sun-Ho
간행물명
산업공학
권/호정보
1998년|11권 1호|pp.199-205 (7 pages)
발행정보
대한산업공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper describes the development of on-the-machine measuring(OMM) system which can directly measure the two and three dimensional machined accuracy using a scanning probe in milling machine. Two algorithms, NC program based continuous path(CP) measurement and CAD data assisted point to point(PTP) measurement, are developed for three dimensional measurements, with consideration of the characteristics of the scanning probe. The algorithms are used to develop an auto measuring system. The delveloped system is compared with the CMM (Coordinate Measuring Machine) in terms of accuracy and repeatability. The OMM system is expected to realize measurement time reduction and hence result in high productivity.