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화상처리를 응용한 직물결점 검출(I)
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  • 화상처리를 응용한 직물결점 검출(I)
저자명
정성훈,최형택,홍철재
간행물명
韓國纖維工學會誌
권/호정보
2000년|37권 1호|pp.34-43 (10 pages)
발행정보
한국섬유공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

A new system for detecting fabric defects using image processing based on the pattern classification by Likelihood function was proposed. The system is made up of a sensing module, a preprocessing module, a feature selection module, a categorization module, and a pattern classification module. The sensing module obtains the digitized image of the fabric using a scanner. The categorization module divides a fabric into defect or detect free area using K-menas algorithm. By using K-means algorithm, the new system is more useful than any other previous systems because of its low memory size and high speed. The pattern classification module recognizes the defects based on the Basian classifier. The decision function and decision boundary are effective identifiers because they reduce time consumption and abridge the previous procedures. A training plain weave fabric containing several slubs and neps is used to find the decision function. The developed system using this decision function detects defects in a test plain weave fabric, and then records a defect report. A defect position report showed reasonable results and high percentage of correcting detection.