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CRT의 Spot-knocking 공정에 있어서 몰리브텐 팁 전계 방출 소자 냉응극의 고장 형태 분석
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  • CRT의 Spot-knocking 공정에 있어서 몰리브텐 팁 전계 방출 소자 냉응극의 고장 형태 분석
저자명
주병군,김훈,박종원,김남수,김동호,이윤희
간행물명
전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. C/ C, 전기물성·응용부문
권/호정보
2001년|50권 8호|pp.414-418 (5 pages)
발행정보
대한전기학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Failure modes of Mo-tip FEA were investigated in detail as a preliminary study for the application of Mo-tip FEA to the CRT electron-gun as a cold cathode. It was identified that the destruction of Mo-tip FEA was originated from reflowing of arc-current during the spot-knocking process followed by secondary arc between gate electrode and cathode substrate. In order to prevent Mo-tip FEA from destruction due to arc-current, two kinds of methods were suggested, that is one is to provide the by-pass of the reflow current and the other is to install a current limiter in the path of gate connection line.