- ESPI를 이용한 전자부품 비파괴 신뢰성평가
- Non-destructive Reliability Evaluation of Electronic Device by ESPI
- ㆍ 저자명
- 윤성운,김경석,조선형,강기수,Yoon. Sung-Un,Kim. Koung-Suk,Jo. Seon-Hyung,Kang. Ki-Soo
- ㆍ 간행물명
- 비파괴검사학회지
- ㆍ 권/호정보
- 2001년|21권 6호|pp.630-633 (4 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국비파괴검사학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
