Pauli 배타 원리를 적용한 축퇴 상태의 양자 우물 소자 모델링을 제안하였다. 양자 우물에서의 다중 에너지 부준위 각각에 대한 Boltzmann 방정식의 collision 항들을 Pauli 배타 원리를 적용하여 전개하고 이들을 Schrodinger 방정식과 Poisson 방정식과 결합하여 비선형적인 시스템의 모델을 설정하였다. 시스템의 해를 직접적으로 구하기 위하여 유한 차분법과 Newton-Raphson method를 적용하여 양자 우물의 다중 에너지 부준위 각각에 대한 캐리어 분포 함수를 구하였다. Si MOSFET의 inversion 영역에 본 모델을 적용하여 전자 밀도의 증가에 따라 양자 우물의 에너지 분포 함수가 Boltzmann 분포 함수의 형태로부터 Fermi-Dirac 분포 함수의 형태로 변화함을 제시하고, 소자 크기가 감소할수록 소자 모델링에 있어서의 Pauli 배타 원리의 중요성과 함께 본 모델의 정당함과 그 해석 방법의 효율성을 보여주었다.
A new model for degenerate semiconductor quantum well devices was developed. In this model, the multi-subband Boltzmann transport equation was formulated by applying the Pauli exclusion principle and coupled to the Schrodinger and Poisson equations. For the solution of the resulted nonlinear system, the finite difference method and the Newton-Raphson method was used and carrier energy distribution function was obtained for each subband. The model was applied to a Si MOSFET inversion layer. The results of the simulation showed the changes of the distribution function from Boltzmann like to Fermi-Dirac like depending on the electron density in the quantum well, which presents the appropriateness of this modeling, the effectiveness of the solution method, and the importance of the Pauli -exclusion principle according to the reduced size of semiconductor devices.
