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Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films
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  • Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films
  • Effects of Heterostructure Electrodes on the Reliability of Ferroelectric PZT Thin Films
저자명
Kim. Seung-Hyun,Woo. Hyun-Jung,Koo. Chang-Young,Yang. Jeong-Seung,Ha. Su-Min,Park. Dong-Yeon,Lee. Dong-Su,Ha. Jo-Woong
간행물명
한국세라믹학회지
권/호정보
2002년|39권 4호|pp.341-345 (5 pages)
발행정보
한국세라믹학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

The effect of the Pt electrode and the $Pt-IrO_2$ hybrid electrode on the performance of ferroelectric device was investigated. The modified Pt thin films with non-columnar structure significantly reduced the oxidation of TiN diffusion barrier layer, which rendered it possible to incorporate the simple stacked structure of Pt/TiN/poly-Si plug. When a $Pt-IrO_2$ hybrid electrode is applied, PZT thin film properties are influenced by the thickness and the partial coverage of the electrode layers. The optimized $Pt-IrO_2$ hybrid electrode significantly enhanced the fatigue properties with minimal leakage current.