회로의 설계기술, 공정기술의 발달로 회로의 복잡도가 증가하고 있으며 대용량 메모리의 수요도 급격하게 증가하고 있다. 이렇듯 메모리의 용량이 커질수록 테스트는 더더욱 어려워지고, 테스트에 소요되는 비용도 점차 증가하여 테스트가 칩 전체에서 차지하는 비중이 커지고 있다. 따라서 짧은 시간에 수율을 향상시킬 수 있는 효율적인 테스트 알고리즘에 대한 연구자 중요하게 여겨지고 있다. 본 논문에서는 단일 포트 메모리의 고장을 검출하는데 가장 보편적으르 사용되는 March C-알고리듬을 바탕으로 하여 이를 보완하고, 추가되는 테스트 길이 없이 단일 포트 메모리뿐만 아니라 이종 포트 메모리에서 발생할 수 있는 모든 종류의 고장이 고려되어 이종 포트 메모리에서도 적용 가능한 효과적인 테스트 알고리듬을 제안한다.
Due to the improvements in circuit design technique and manufacturing technique, complexity of a circuit is growing along with the demand for memories with large capacities. Likewise, as a memory capacity gets larger, testing gets harder and testing cost increases, and testing process in chip development gets larger as well. Therefore, a research on an effective test algorithm to improve the chip yield rate in a short time period is becoming an important task. This paper proposes an effective, March C-algorithm based, test algorithm that can also be applied to a dual-port memory since it considers all the fault types, which can be occurred in a single-port as well as in a dual-port memory, without increasing the test length.
