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100 nm NIST 표준입자를 이용한 미분형 전기 이동도 분석기의 교정 및 불확실도 측정
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  • 100 nm NIST 표준입자를 이용한 미분형 전기 이동도 분석기의 교정 및 불확실도 측정
저자명
이상진,안진홍,안강호,Lee. Snag-Jin,Ahn. Jin-Hong,Ahn. Kang-Ho
간행물명
大韓機械學會論文集. Transactions of the Korean society of mechanical engineers. B. B
권/호정보
2003년|27권 12호|pp.1766-1771 (6 pages)
발행정보
대한기계학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

House made differential mobility analyzer(DMA) is calibrated with NIST SRM 1691(300 nm PSL). Then the particle size and uncertainty for differential mobility analyzer(DMA) using the NIST SRM 1963(100 nm PSL). In result, calibration of prototype DMA is measured using 300 nm NIST SRM 1691, then sheath air flow was corrected 126.67 ㎤/s. Corrected sheath air flow is used in uncertainty measurement of prototype DMA. Uncertainty analysis is performed using NIST SRM 1963(100 nm PSL). The experimental result shows that NIST SRM 1963 is measured as 102.17 nm with a type A uncertainty of 0.33 nm.