Imaging plate에 기록된 전자회절 자료의 면간 거리 분석과 상동정시 나타나는 오차 요인들을 고찰하고 실험적인 보정방법을 도출하였다. 각각의 회절방향에 대한 radial intensity distribution plot과 실험적으로 도출된 면간 거리 보정식에 의해 전자회절 자료의 디지털 이미지에서 면간 거리 측정오차는 약 0.5%로 낮아짐을 알 수 있었다. Al 표준시료를 이용하여 imaging plate에 기록된 전자회절 자료의 면간 거리 편차 경향을 분석한 후 [001] gibbsite 시편에 동일한 실험적 보정을 수행하여 120분간의 전자빔 조사로부터 형성된 여러 전이 상들에 대한 면간 거리 측정 및 상 동정을 보다 정밀히 수행할 수 있었다. 그 결과, gibbsite로부터 형성된 주요 전이상들은 ${chi}$-알루미나, ${gamma}$-알루미나, ${sigma}$-알루미나로 구성됨을 명확하게 동정할 수 있었다.
The Experimental calibration method has been investigated to correct d-spacing estimation and to identify phases in the electron diffraction data acquired by imaging plates. When the diffraction data from the imaging plate was corrected by the d-spacing calibration method with the radial intensity distribution plotting in this experiment, The accuracy of d-spacing estimation was significantly increased in errors of about 0.5%. The experimental calibration equation followed up the first order exponential decay function was derived from the trace of d-spacing deviation between the measured and the calculated values. It was applied to the analysis of d-spacing and the phase identification of the transitional phases formed from [001] gibbsite specimen by electron beam irradiation effect. In this case more accurate phase identification and d-spacing evaluation is possible for the transitional phases whose diffraction patterns are complicatedly superimposed. It is concluded that ${chi}$-alumina, ${gamma}$-alumina and ${sigma}$-alumina are clearly identified as the major transitional phases formed from gibbsite by electron beam irradiation for 120 min.
