물질의 구조 특성파악에 많이 사용되는 X-선과 전자선에 대한 소스 원을 살펴보고 물질과의 반응을 atomic scattering factor의 항으로 설명하였다. 물질과의 회절을 역 격자 공간에서의 Ewald sphere로 설명하고 유한 크기의 소스 파장과 검출기의 효과도 함께 고려하였다.
In this review, the sources and the characteristics of X-rays and electrons and their interactions with matters were described in terms of the atomic scattering factors. The geometrical diffraction conditions were taken into account in terms of Ewald spheres in reciprocal lattice spaces. The effects of the finite size of sources and detectors on diffractions were also considered.
