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나노인프로세스 형상계측 및 미세가공용 프로브의 개발
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  • 나노인프로세스 형상계측 및 미세가공용 프로브의 개발
저자명
권현규,최성대,Kweon. Hyun-Kyu,Choi. Seong-Dae
간행물명
한국기계가공학회지
권/호정보
2003년|2권 1호|pp.75-84 (10 pages)
발행정보
한국기계가공학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

In this paper, a new nano/micro-mechanical processing test machine was developed. This new test machine, which is based on the principle of the scanning force controlled probe microscope, can realize nano/micro-mechanical machining and in-process profile measurement. Experimental results of nano/micro indentation and scratching show that the controllable cutting depth of the test machine can be controlled by PZT actuator. Profile measurement of the machined surface has also been performed by using the test machine and a conventional AFM(Atomic Force Microscopy). A good agreement of the two measurement results have been achieved.