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다기능 NSOM (mf-NSOM) 을 이용한 나노 구조 재료 분석에 관한 원리와 응용
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  • 다기능 NSOM (mf-NSOM) 을 이용한 나노 구조 재료 분석에 관한 원리와 응용
저자명
이우진,변수일,Lee. Woo-Jin,Pyun. Su-Il
간행물명
전기화학회지
권/호정보
2004년|7권 2호|pp.108-123 (16 pages)
발행정보
한국전기화학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

최근 근접장 광학주사현미경 (NSOM)을 이용한 재료의 표면 및 구조 분석은 생물학에서 재료과학에까지 광범위하게 응용되고 있다. 본 총설에서는 기존의 NSOM을 여러가지 현미경법 (광학, 형광, 전자 및 전기화학 현미경 관찰법)과 접목하여 구성한 다기능 NSOM (multi-functional NSOM, mf-NSOM)을 이용, 나노 재료의 고분해능 이미징에 대한 원리와 응용을 고찰하였다. 본 mf-NSOM 기술을 이용하여 실제로 Al합금 및 다결정 Ti 표면에서의 공식 (pitting)을 일으키는 취약 지역을 광학적으로 분석한 결과를 기술하였다. 또한, mf-NSOM과 레이저 기술을 통해 나노 Ag 입자를 형성하고 실시간 분석한 연구결과에 대해서도 소개하고자 한다.

기타언어초록

Imaging of surfaces and structures by near-field scanning optical microscopy (NSOM) has matured and is routinely used for studies ranging from biology to materials science. Of interest in this review paper is a versatility of modified or multi-functional NSOM (mf-NSOM) to enable high resolution imaging in several modes: (1) Concurrent fluorescence and Topographical Imaging (gases) (2) Microspectroscopy (gases) (3) Concurrent Scanning Electrochemical and Topographical Imaging (SECM) (liquids) (4) Concurrent Photoelectrochemical and Topographical Imaging (PEM) (liquids) The present study will summarize some of the recent advances in mf-NSOM work confirmed and supported by the results from several other imaging techniques of optical, fluorescence, electron and electrochemical microscopy. The studies are directed at providing local information on pitting precursor sites and vulnerable areas on metal and semiconductor surfaces, and at reactive sites on heterogeneous, catalytic substrates, especially on Al 2024 alloy and polycrystalline Ti. In addition, we will introduce some results related to the laser-induced nanometal (Ag) synthesis using mf-NSOM.