- 반도체 소자의 DC 특성 검사용 회로설계에 관한 연구
- ㆍ 저자명
- 김준식,이상신,전병준
- ㆍ 간행물명
- 照明·電氣設備學會論文誌
- ㆍ 권/호정보
- 2004년|18권 1호|pp.105-114 (10 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국조명전기설비학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
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본 논문에서 반도체 소자에 대한 DC 파라미터 검사를 위한 회로를 설계하였다. DC 파라미터 검사기는 반도체 소자의 DC 특성을 검사하는 시스템 이다. 본 논문에서 설계한 회로에서는 파라미터를 검사하기 위해 전압(전류)인가 전류(전압)측정 방법을 사용하도록 회로를 설계하였다. 설계한 회로를 OR-CAD를 사용하여 실험하였으며, 설계된 회로의 실험결과를 통해 좋은 성능을 가짐을 알 수 있었다.
In this paper, we design the circuits for DC parameter test of semiconductor devices. The DC parameter tester is the system which inspects the DC parameters of semiconductor devices. In the designed circuits, voltage(current) forcing current(voltage) sensing methods are used to inspect the parameters. The designed circuits are simulated by OR-CAD. The simulation results have good performance.