시스템 온 칩의 테스트 스케줄링은 제한된 전력 사용량 내에서 테스트 시간을 최소화하기 위한 방법들 가운데 하나로서 매우 중요하다. 본 논문에서는 테스트 자원들을 선택하여 그룹화하고 코어 기반 시스템 온 칩 전체 전력소비량을 고려하면서 테스트 시간과 전력소모량의 곱의 크기에 기초하여 이들을 배열하여 스케줄링 하는 휴리스틱 알고리듬을 제안한다. 전력소모량은 최대이면서 제한된 전력 소모량을 초과하지 않는 테스트 자원 그룹을 먼저 선택하고 테스트 자원 그룹 내 요소들의 테스트 시작 위치를 테스트 공간의 초기 위치에 배치하여 테스트 자원들의 낭비시간을 최소화한다. ITC02 벤치마크 회로를 사용한 실험을 통해 알고리듬의 유효성을 보인다.
Test scheduling of SoC (System-on-a-chip) is very important because it is one of the prime methods to minimize the testing time under limited power consumption of SoC. In this paper, a heuristic algorithm, in which test resources are selected for groups and arranged based on the size of product of power dissipation and test time together with total power consumption in core-based SoC is proposed. We select test resource groups which has maximum power consumption but does not exceed the constrained power consumption and make the testing time slot of resources in the test resource group to be aligned at the initial position in test space to minimize the idling test time of test resources. The efficiency of proposed algorithm is confirmed by experiment using ITC02 benchmarks.
