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두 개의 이상원인이 존재하는 공정에 대한 VSSI $ar{X}$ 관리도의 통계적 효율성
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  • 두 개의 이상원인이 존재하는 공정에 대한 VSSI $ar{X}$ 관리도의 통계적 효율성
저자명
이호중,임태진,Lee. Ho-Jung,Lim. Tae-Jin
간행물명
品質經營學會誌
권/호정보
2004년|32권 4호|pp.156-168 (13 pages)
발행정보
한국품질경영학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This research investigates the statistical efficiency of variable sampling size & sampling interval(VSSI) $ar{X}$ charts under two assignable causes. Algorithms for calculating the average run length(ARL) and average time to signal(ATS) of the VSSI $ar{X}$ chart are proposed by employing Markov chain method. States of the process are defined according to the process characteristics after the occurrence of an assignable cause. Transition probabilities are carefully derived from the state definition. Statistical properties of the proposed chart are also investigated. A simple procedure for designing the proposed chart is presented based on the properties. Extensive sensitivity analyses show that the VSSI $ar{X}$ chart is superior to the VSS or VSI $ar{X}$ chart as well as to the Shewhart $ar{X}$ chart in statistical sense, even tinder two assignable causes.