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Big Y 전개를 통한 장치 Line의 Yield 향상
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  • Big Y 전개를 통한 장치 Line의 Yield 향상
저자명
문기주,박우종,Moon. Gi-Ju,Park. Woo-Jong
간행물명
品質經營學會誌
권/호정보
2004년|32권 4호|pp.184-195 (12 pages)
발행정보
한국품질경영학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트(0.49MB)
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

Current companies 집중 on how to operate and select projects to achieve the best result. 6sigma projects are chosen in the best suitable concept, which are solved by the 6Sigma experts according to the priority. And every project has to be launched not the view of individual management factors but the total factors, Big Y. Therefore, a process needs to be treated to connect the vital few factors in various processes to improve the yield, which is the main performance criteria in a manufacturing industry This report is to make the total optimization through the Vital-Few mapping between quality characteristics and process factors in a manufacturing line. Accordingly, it means to secure lower variance by making the CTP(Critical To Process) optimization and finally to improve the yield.