무기결정질인 $SmZn_{0.67}Sb_2$의 3차원적 구조 (공간군 P4/nmm, $a=4.26{AA},;c=10.37{AA}$)를 전자결정학을 이용하여 분석하였다. 3차원적 정보를 얻기 위해서 주요 정대축인 세 방향의 고분해능 이미지의 정보와 16개의 정대축 방향의 회절도형을 조합하였다. 고분해능 이미지의 결정학적 화상처리(CIP)를 결정구조의 보다 정확한 분석을 위하여 사용하였다. 전자결정학을 이용한 분석 결과, [001], [100], [110] 방향에 대한 고분해능 이미지의 ${Phi}_{res}$는 각각 $17.0^{circ},;8.3^{circ},;21.9^{circ}$를 나타내었다. 전자결정학을 이용한 구조 분석 결과에 대한 정확도를 비교하기 위하여 X-ray 회절 분석을 시도하였다. $SmZn_{0.67}Sb_2$의 X-ray 구조 분석 결과, $a=4.276{AA},;c=10.287{AA}$이고 신뢰도($R_{sym}$)는 4.16% 이었다.
The three-dimensional (3D) structure of an inorganic crystal, $SmZn_{0.67}Sb_2$ (space group P4/nmm, $a=4.26{AA};and;c=10.37{AA}$) was solved by electron crystallography. High resolution electron microscopy (HREM) images from 3 different major zone axes and selected-area electron diffraction patterns from 16 different zone axes were combined to obtain a 3D information. A crystallographic image processing (CIP) of HREM images was used for more accurate determination of the crystal structure. As a result of this electron crystallography, average phase errors (${Phi}_{res}$) of [001], [100] and [110] HREM images are $17.0^{circ},;8.3^{circ};and;21.9^{circ}$, respectively. Xray crystallography of $SmZn_{0.67}Sb_2$ has attempted to compare accuracy of the structure determination by electron crystallography, which resulted in the cell parameters of $a=4.2976(6){AA};and;c=10.287(2){AA}$, and the R-factor ($R_{sym}$) of 4.16%.
