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OCT에 의한 다층 박막의 Spot Marking 분석
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  • OCT에 의한 다층 박막의 Spot Marking 분석
  • Investigation of Spot Marking in Multilayer Thin Films using OCT
저자명
신용진,김현진,김영섭,박소희,Shin. Yongjin,Kim. Hyunjin,Kim. Youngseop,Park. Sohee
간행물명
한국레이저가공학회지
권/호정보
2004년|7권 2호|pp.11-18 (8 pages)
발행정보
한국레이저가공학회
파일정보
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주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

We propose a novel application of optical coherence tomography (OCT) to monitor pit formation in laser irradiated optical storage materials. A multilayer optical storage recordable compact disk, is composed of multiple layers, each of different structure. Disks were irradiated with aQ-Switched Nd:YAG laser with an energy of 373 mJ. Post-irradiated disks were evaluated by OCT and those images were compared with optical microscopy. Our results indicate that OCT is a useful instrument to investigate pit formation in multilayer optical storage disks and might also provide information to optimize optical memory technology.