본 논문에서는 Crosstalk에 의한 coupling capacitance의 변화량, ${Delta}Cc$이 기본값인 Cc보다 더 커질 수 있음을 제안한 테스트 회로를 이용하여 실험적으로 증명하였다. 또한 ${Delta}Cc$가 Aggressive line의 위상에 매우 의존함을 보였으며 위상이 같은 경우보다 반대인 경우에 ${Delta}Cc$가 크게 됨을 보였다. 실험 결과의 타당성을 검증을 위해 HSPICE 시뮬레이션을 수행하여 실험치와 잘 맞음을 나타내었다.
In this paper, novel test patterns and on-chip data are presented to indicate that the variation of coupling capacitance, ${Delta}Cc$ by crosstalk can be larger than static coupling capacitance, Cc. It is also shown that ${Delta}Cc$ is strongly dependent on the phase of aggressive lines. for anti-phase crosstalk ${Delta}Cc$ is always larger than Cc while for in-phase crosstalk ${Delta}Cc$ is smaller than Cc. HSPICE simulation shows good agreement with the measurement data.
