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Varistor의 ALT(Accelerated Life Testing) 설계 및 주 고장모드 분석
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  • Varistor의 ALT(Accelerated Life Testing) 설계 및 주 고장모드 분석
저자명
장우성,이준혁,이관훈,오영환,Chang. Woo-Sung,Lee. Jun-Hyuk,Lee. Kwan-Hun,Oh. Young-Hwan
간행물명
신뢰성응용연구
권/호정보
2005년|5권 2호|pp.221-239 (19 pages)
발행정보
한국신뢰성학회
파일정보
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주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

General chip SMD parts(chip resistance, chip capacitor, chip varistor etc.) are very wide used electronics parts for IT units. But, failure modes are indistinct for these chip parts. In factory and field the failure modes are recognized to accidental failure mode caused by potential defect. In this paper used chip varistor ALT(Accelerate Life Test) test for verify general failure modes in chip SMD parts. Also the results are useful for general chip SMD ALT tests.