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Fringe-Field Switching (FFS) 모드에서 잔상 정량화에 관한 연구
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  • Fringe-Field Switching (FFS) 모드에서 잔상 정량화에 관한 연구
저자명
신승민,김미숙,정연학,김향율,김서윤,Seen. Seung-Min,Kim. Mn-Sook,Jung. Yeon-Hak,Kim. Hyang-Yul,Kim. Seo-Yoon
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2005년|18권 8호|pp.720-723 (4 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

We studied the quantitativity of the image sticking which is occured by the resicual DC in the fringe-electric field switching (FFS) mode. Actually, in the FFS mode driven by the strong fringe electric field, the asymmetric residual DC was formed in the bottom substrate. It made the impurity ion stick to the alignment layer such as polyimde layer. Thus, the differnece of the luminance existes after the stress check pattern is applied to the panel so that we can see the image sticking. This image sticking decreases as the residual DC value between specific patterns decreases. Therefore, it is necessary to control the residual DC for the FFS mode with the high image quality. It is possible to eliminate the image stiking when the extra pixel voltage is applied through the circuit tunning for reducing the difference of residual DC accroding to the panel position.