- Submicron-scale Polymeric Patterns for Tribological Application in MEMS/NEMS
- Submicron-scale Polymeric Patterns for Tribological Application in MEMS/NEMS
- ㆍ 저자명
- Singh. R. Arvind,Yoon. Eui-Sung,Kim. Hong Joon,Kong. Hosung,Jeong. Hoon Eui,Suh. Kahp Y.
- ㆍ 간행물명
- KSTLE international journal
- ㆍ 권/호정보
- 2005년|6권 2호|pp.33-38 (6 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국윤활학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물|ENG| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
