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과학기술위성 2호 대용량 메모리 유닛 시험모델 설계 및 구현
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  • 과학기술위성 2호 대용량 메모리 유닛 시험모델 설계 및 구현
저자명
서인호,유창완,남명룡,방효충,Seo. In-Ho,Ryu. Chang-Wan,Nam. Myeong-Ryong,Bang. Hyo-Choong
간행물명
韓國航空宇宙學會誌
권/호정보
2005년|33권 11호|pp.115-120 (6 pages)
발행정보
한국항공우주학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

본 논문에서는 과학기술위성 2호 대용량 메모리 유닛(Mass Memory Unit, MMU)의 시험모델(Engineering Model, EM)을 개발하고 기능 및 성능 시험한 결과를 제시하였다. 성능 구현에 필요한 로직들을 별도의 전용 칩들을 사용하지 않고 하나의 FPGA에 구현함으로써 대용량 메모리 유닛을 소형화, 경량화하고 저전력으로 사용할 수 있도록 하였다. 대용량 메모리는 2Gbits SDRAM 모듈을 사용하였으며 파일 시스템을 운용하여 지상국에서의 데이터 관리가 용이 하도록 하였다. 대용량 메모리에서 발생하는 SEU(Single Event Upset)를 극복하기 위해서 RS(207,187) 코드가 소프트웨어로 구현되어 있어서 187바이트당 10바이트의 에러를 복구할 수 있다. 또한 탑재체 데이터의 수신 성능을 검증하기 위해서 시뮬레이터를 제작 하였다.

기타언어초록

This paper describes the design and implementation of engineering model(EM) of Mass Memory Unit(MMU) for Science and Technology Satellite 2(STSAT-2) and the results of integration test. The use of Field-Programmable Gate Array(FPGA) instead of using private electric parts makes a miniaturization and lightweight of MMU possible. 2Gbits Synchronous Dynamic Random Access Memory(SDRAM) module for mass memory is used to store payload and satellite status data. Moreover, file system is applied to manage them easily in the ground station. RS(207,187) code improves the tolerance with respect to Single Event Upset(SEU) induced in SDRAM. The simulator is manufactured to verify receiving performance of payload data.