고속직렬프로토콜의 출현으로 기존의 병렬 인터페이스에서 중요하게 사용되던 파라미터들의 의미가 변화되고 있다. 특히 ‘1’, ‘0’의 디지털 신호가 고속의 차동신호로 전송되면서 신호 무결성의 파라미터로 지터(jitter)가 중요한 의미를 가지게 되었다. 본 고는 지터의 발생과 분석, 테스트 등 전분야를 다루고 있다. 지터를 분석하기 위한 방법으로 Eye Diagram, Bathtub 곡선, TIE 히스토그램 등을 다루며 이러한 방법을 사용하여 지터를 각각의 특성별로 분리한다. 그리고 지터를 테스트 장비와 각각의 특징을 살펴본 후 PCI Express 트랜시버 지터 테스트의 실례를 통하여 지터 테스트 방법과 분석을 보여준다.