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XRD Patterns and Bismuth Sticking Coefficient in $Bi_2Sr_2Ca_nCu_{n+1}O_y(ngeq0)$ Thin Films Fabricated by Ion Beam Sputtering Method
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  • XRD Patterns and Bismuth Sticking Coefficient in $Bi_2Sr_2Ca_nCu_{n+1}O_y(ngeq0)$ Thin Films Fabricated by Ion Beam Sputtering Method
  • XRD Patterns and Bismuth Sticking Coefficient in $Bi_2Sr_2Ca_nCu_{n+1}O_y(ngeq0)$ Thin Films Fabricated by Ion Beam Sputtering Method
저자명
Yang. Seung-Ho,Park. Yong-Pil
간행물명
International journal of maritime information and communication sciences
권/호정보
2006년|4권 4호|pp.158-161 (4 pages)
발행정보
한국해양정보통신학회
파일정보
정기간행물|ENG|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

[ $Bi_2Sr_2Ca_nCu_{n+1}O_y(n{geq}0)$ ] thin film is fabricatedvia two different processes using an ion beam sputtering method i.e. co-deposition and layer-by-layer deposition. A single phase of Bi2212 can be fabricated via the co-deposition process. While it cannot be obtained by the layer-by-layer process. Ultra-low growth rate in our ion beam sputtering system brings out the difference in Bi element adsorption between the two processes and results in only 30% adsorption against total incident Bi amount by layer-by-layer deposition, in contrast to enough Bi adsorption by co-deposition.