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저압용 전기전자기기에 부분방전시험의 적용을 위한 기초연구
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  • 저압용 전기전자기기에 부분방전시험의 적용을 위한 기초연구
저자명
길경석,송재용,문승보,차명수,황돈하,강동식,Kil. Gyung-Suk,Song. Jae-Yong,Moon. Seung-Bo,Cha. Myung-Soo,Hwang. Don-Ha,Kang. Dong-Sik
간행물명
전기전자재료학회논문지
권/호정보
2006년|19권 6호|pp.586-590 (5 pages)
발행정보
한국전기전자재료학회
파일정보
정기간행물|
PDF텍스트
주제분야
기타
이 논문은 한국과학기술정보연구원과 논문 연계를 통해 무료로 제공되는 원문입니다.
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기타언어초록

This paper deals with the application of a partial discharge (PD) test on low-voltage electrical and electronic devices, which is recently being accepted as a non-destructive and a effective dielectric test method. A comparative analysis combined with the Withstand Voltage Test (WVT) specified in IEC standards was carried out on low-voltage insulation transformers. The results showed that the WVT causes insulation degradation of the specimen during the test by applying high voltage. However, the PD test can be performed in ranges from 30 % to 50 % of the test voltage specified in the WVT. Therefore, the PD test is successfully applicable for a non-destructive test method on low-voltage electrical and electronic devices as a replacement of the WVT.