- 일축 압축에 의한 시료 파괴 시 수반되는 미소 전위에 대한 기초 연구
- A Basic Study on Micro-Electric Potential accompanied with Specimen Failure during Uniaxial Compressive Test
- ㆍ 저자명
- 김종욱,박삼규,송영수,성낙훈,김정호,조성준,Kim. Jong-Wook,Park. Sam-Gyu,Song. Young-Soo,Sung. Nak-Hun,Kim. Jung-Ho,Cho. Seong-Jun
- ㆍ 간행물명
- 물리탐사
- ㆍ 권/호정보
- 2007년|10권 3호|pp.203-210 (8 pages)
- ㆍ 발행정보
- 한국지구물리탐사학회
- ㆍ 파일정보
- 정기간행물| PDF텍스트
- ㆍ 주제분야
- 기타
