Scanning Prove Microscope (SPM) - based Data Storage (SDS)는 Atomic Force Microscope (AFM)을 이용하여 Cantilever Tip 이 저장 장치 미디어에 나노미터 단위로 비트를 읽고, 쓰고 지우는 저장 장치로써, x, y 두 축을 이용한다. 따라서 축간 coupling 의 영향이 크게 발생한다. 따라서 축간 coupling 의 영향을 고려하여 제어기를 설계하여야 한다. 본 논문은 coupling 요소를 제거하기 위하여 Feedforward Decoupler 를 설계하여 Stage 의 입력 앞 단에 추가하는 방법을 제안하였다. Feedforward Decoupler 를 추가함으로써 coupling 요소가 줄어드는 것을 모의 실험을 통해 확인한다. 이를 통해 나노급으로 보다 정밀한 제어가 가능함을 확인하였다.